stress determination with Kossel microdiffraction in a scanning electron microscope - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

stress determination with Kossel microdiffraction in a scanning electron microscope

Sophie Berveiller
Etienne Patoor
  • Fonction : Auteur
Jean-Sébastien Lecomte
Laboratoire d'étude des textures et application aux matériaux
CV
Karim Inal
CV
A. Eberhardt
  • Fonction : Auteur

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Cristallographie

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https://hal.science/hal-00111936

Soumis le : lundi 6 novembre 2006-15:54:17

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-14:04:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00111936 , version 1 (06-11-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00111936 , version 1

Citer

Sophie Berveiller, Etienne Patoor, Jean-Sébastien Lecomte, Karim Inal, A. Eberhardt. stress determination with Kossel microdiffraction in a scanning electron microscope. 7th European Conference on Residual Stresses (ECRS7, Berlin, Jan 2006, Germany. ⟨hal-00111936⟩

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