Kelvin probe force microscopy on surfaces of UHV-cleaved ionic crystals - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Nanotechnology Année : 2006

Kelvin probe force microscopy on surfaces of UHV-cleaved ionic crystals

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https://hal.science/hal-00110185

Soumis le : jeudi 26 octobre 2006-16:48:42

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00110185 , version 1 (26-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00110185 , version 1

Citer

C. Barth, C.R. Henry. Kelvin probe force microscopy on surfaces of UHV-cleaved ionic crystals. Nanotechnology, 2006, 17, pp.S155-S161. ⟨hal-00110185⟩

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