“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Vacuum Science and Technology Année : 2002

“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy

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Soumis le : lundi 25 septembre 2006-10:42:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

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hal-00098202 , version 1 (25-09-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00098202 , version 1

Citer

Olivier Schneegans, Lionel Boyer, Frédéric Houzé, René Meyer, Pascal Chrétien. “ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy. Journal of Vacuum Science and Technology, 2002, 20, pp.1929. ⟨hal-00098202⟩

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