X-ray diffraction study of effect of deposition conditions on alpha-beta phase transition and stress evolution in sputter-deposited W coatings - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Chin. Phys. Soc. Année : 2006

X-ray diffraction study of effect of deposition conditions on alpha-beta phase transition and stress evolution in sputter-deposited W coatings

Evelyne Coudert  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00097531

Soumis le : jeudi 21 septembre 2006-17:29:29

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Dates et versions

hal-00097531 , version 1 (21-09-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00097531 , version 1

Citer

Cong Wang, Pascal Brault, Alain Pineau, Pascale Plantin, Anne Lise Thomann. X-ray diffraction study of effect of deposition conditions on alpha-beta phase transition and stress evolution in sputter-deposited W coatings. Chin. Phys. Soc., 2006, 15 (02), pp.432-436. ⟨hal-00097531⟩

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