An alternative scattering method to characterize surface roughness from transparent substrates - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Optics Express Année : 2007

An alternative scattering method to characterize surface roughness from transparent substrates

Myriam Zerrad
Institut FRESNEL
CV
Carole Deumie
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 834007
Institut FRESNEL
Michel Lequime
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832181
Institut FRESNEL
Claude Amra
Institut FRESNEL
CV

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https://hal.science/hal-00092525

Soumis le : lundi 11 septembre 2006-13:40:36

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-11:06:03

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Dates et versions

hal-00092525 , version 1 (11-09-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00092525 , version 1

Citer

Myriam Zerrad, Carole Deumie, Michel Lequime, Claude Amra. An alternative scattering method to characterize surface roughness from transparent substrates. Optics Express, 2007, 15 (15), pp.9222-9231. ⟨hal-00092525⟩

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