X-ray scattering from interface dislocations in highly mismatched oxide epitaxial films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Zeitschrift für Kristallographie Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00087582 , version 1 (25-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00087582 , version 1

Citer

René Guinebretière, Alexandre Boulle, Olivier Masson, A. Dauger. X-ray scattering from interface dislocations in highly mismatched oxide epitaxial films. Zeitschrift für Kristallographie, 2006, 23, pp.263-268. ⟨hal-00087582⟩
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