"X-Ray reflectometry analysis of porous materials" - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

"X-Ray reflectometry analysis of porous materials"

A. van Der Lee
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00084538 , version 1 (07-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00084538 , version 1

Citer

A. van Der Lee. "X-Ray reflectometry analysis of porous materials". Workshop on "Scattering and X-Ray spectroscopy characterization techniques for membranes and porous materials", 2006, Lillehammer, Norway. ⟨hal-00084538⟩
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