Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry

C. Defranoux
  • Fonction : Auteur
Y. Guinche
  • Fonction : Auteur
F. Monestier
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
J.J. Simon
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Institut FRESNEL
Ph. Torchio
Institut FRESNEL
Ludovic Escoubas
Institut FRESNEL
J.M. Nunzi
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00084140

Soumis le : mercredi 5 juillet 2006-17:49:55

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-11:06:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00084140 , version 1 (05-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00084140 , version 1

Citer

C. Defranoux, Y. Guinche, F. Monestier, J.J. Simon, Ph. Torchio, et al.. Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry. 3rd International Conference on Photoresponsive Organics and Polymers, 2006, Val Thorens, Savoie, France. ⟨hal-00084140⟩

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