Guided-wave technique for the measurement of dielectric thin-film materials thermal properties - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied optics Année : 2002

Guided-wave technique for the measurement of dielectric thin-film materials thermal properties

P. Huguet-Chantôme
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Ludovic Escoubas
Institut FRESNEL
F. Flory
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL

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https://hal.science/hal-00084096

Soumis le : mercredi 5 juillet 2006-16:23:01

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-11:06:03

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Dates et versions

hal-00084096 , version 1 (05-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00084096 , version 1

Citer

P. Huguet-Chantôme, Ludovic Escoubas, F. Flory. Guided-wave technique for the measurement of dielectric thin-film materials thermal properties. Applied optics, 2002, 41, pp.3127-3131. ⟨hal-00084096⟩

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