Integrated photothermal microscope and laser damage test facility for in-situ investigation of nanodefect induced damage - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Optics Express Année : 2003

Integrated photothermal microscope and laser damage test facility for in-situ investigation of nanodefect induced damage

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Laurent Gallais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00082109

Soumis le : mardi 27 juin 2006-10:00:52

Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:36

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00082109 , version 1 (27-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00082109 , version 1

Citer

Annelise During, Mireille Commandre, Caroline Fossati, Bertrand Bertussi, Jean-Yves Natoli, et al.. Integrated photothermal microscope and laser damage test facility for in-situ investigation of nanodefect induced damage. Optics Express, 2003, 20, pp.2497. ⟨hal-00082109⟩

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