Oral : "Principes de base de réflectométrie RX et application à l'analyse de la porosité" - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Oral : "Principes de base de réflectométrie RX et application à l'analyse de la porosité"

A. van Der Lee
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00081816 , version 1 (26-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00081816 , version 1

Citer

A. van Der Lee. Oral : "Principes de base de réflectométrie RX et application à l'analyse de la porosité". Colloque "Techniques innovantes de caractérisation optique microstructurale de couches minces" - April 2005, 2005, Montpellier, France. ⟨hal-00081816⟩
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