Article Dans Une Revue
Applied optics
Année : 2003
Laurent Gallais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00081046
Soumis le : mercredi 21 juin 2006-17:34:19
Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-11:06:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00081046 , version 1
Citer
Laurent Gallais, Jean-Yves Natoli. Optimized metrology for laser damage measurement - Application to multiparameter study. Applied optics, 2003, 42, pp.960. ⟨hal-00081046⟩
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