Optimized metrology for laser damage measurement - Application to multiparameter study - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied optics Année : 2003

Optimized metrology for laser damage measurement - Application to multiparameter study

Laurent Gallais
Jean-Yves Natoli
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832180
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00081046 , version 1 (21-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00081046 , version 1

Citer

Laurent Gallais, Jean-Yves Natoli. Optimized metrology for laser damage measurement - Application to multiparameter study. Applied optics, 2003, 42, pp.960. ⟨hal-00081046⟩
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