"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry" - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry"

V. Rouessac
Institut Européen des membranes
CV
R. Coustel
CV
F. Bosc
  • Fonction : Auteur
Institut Européen des membranes
J. Durand
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1104751
Institut Européen des membranes
A. Ayral
  • Fonction : Auteur
Institut Européen des membranes

Nathalie Bonneval  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00080025

Soumis le : mercredi 14 juin 2006-14:13:13

Dernière modification le : lundi 17 juin 2024-09:09:41

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00080025 , version 1 (14-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00080025 , version 1

Citer

V. Rouessac, R. Coustel, F. Bosc, J. Durand, A. Ayral. "Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry". 2005. ⟨hal-00080025⟩

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