"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry" - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry"

V. Rouessac
R. Coustel
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00080025 , version 1 (14-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00080025 , version 1

Citer

V. Rouessac, R. Coustel, F. Bosc, J. Durand, A. Ayral. "Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry". 2005. ⟨hal-00080025⟩
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