Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2006
Nathalie Bonneval : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00080016
Soumis le : mercredi 14 juin 2006-13:34:49
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
M. Klotz, V. Rouessac, D. Rebiscoul, A. Ayral, A. van Der Lee. "Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry". Thin Solid Films, 2006, 495, pp.214-218. ⟨10.1016/j.tsf.2005.08.168⟩. ⟨hal-00080016⟩
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