"Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry" - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2006

"Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry"

M. Klotz
  • Fonction : Auteur
V. Rouessac
D. Rebiscoul
A. van Der Lee

Domaines

Chimie

Dates et versions

hal-00080016 , version 1 (14-06-2006)

Identifiants

Citer

M. Klotz, V. Rouessac, D. Rebiscoul, A. Ayral, A. van Der Lee. "Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry". Thin Solid Films, 2006, 495, pp.214-218. ⟨10.1016/j.tsf.2005.08.168⟩. ⟨hal-00080016⟩
75 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More