Low intensity threshold values for keV X-ray production in laser-cluster interaction - Archive ouverte HAL
Pré-Publication, Document De Travail Année : 2005

Low intensity threshold values for keV X-ray production in laser-cluster interaction

Christophe Prigent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 974281
L. Adoui
  • Fonction : Auteur
Dominique Vernhet
O. Gobert
  • Fonction : Auteur
P. Meynadier
  • Fonction : Auteur
D. Normand
  • Fonction : Auteur
M. Perdrix
  • Fonction : Auteur
Cornelia Diess
  • Fonction : Auteur
Joachim Burgdorfer
  • Fonction : Auteur
Nina Rohringer
  • Fonction : Auteur

Résumé

Absolute Ar XK (3 keV) and Xe XL (4 keV) photon yields are measured as a function of laser peak intensity, for large (104 - 105 atoms) argon and xenon clusters submitted to intense laser pulses. A clear threshold behavior is observed. The intensity threshold is found as low as 2 1014 Wcm-2, a value matching the production of singly-charged argon or doubly-charged xenon by optical field ionization. Possible mechanisms involved in the inner-shell ionization are discussed. The outcome on the optimization of keV X-ray production is underlined.

Dates et versions

hal-00008069 , version 1 (19-08-2005)

Identifiants

Citer

Christophe Prigent, L. Adoui, Emily Lamour, J. -P. Rozet, Dominique Vernhet, et al.. Low intensity threshold values for keV X-ray production in laser-cluster interaction. 2005. ⟨hal-00008069⟩
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