Dependence of the field and charge distribution at semicon/polyethylene interface on the press-molding process derived from Kelvin Probe Force Microscopy - Les productions scientifiques du laboratoire plasma et conversion d’énergie Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Dependence of the field and charge distribution at semicon/polyethylene interface on the press-molding process derived from Kelvin Probe Force Microscopy

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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hal-03943240 , version 1 (20-01-2023)

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Citer

Francesco Gullo, T. Christen, Christina Villeneuve-Faure, H Hillborg, Christian Laurent, et al.. Dependence of the field and charge distribution at semicon/polyethylene interface on the press-molding process derived from Kelvin Probe Force Microscopy. International Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP 2018), Oct 2018, Cancún, Mexico. pp.469-472, ⟨10.1109/CEIDP.2018.8544910⟩. ⟨hal-03943240⟩
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