Nano-scale characterization of dielectric-semicon contacts - Les productions scientifiques du laboratoire plasma et conversion d’énergie Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Nano-scale characterization of dielectric-semicon contacts

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03943237 , version 1 (20-01-2023)

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Citer

Francesco Gullo, Christina Villeneuve-Faure, Séverine Le Roy, Christian Laurent, Gilbert Teyssedre, et al.. Nano-scale characterization of dielectric-semicon contacts. IEEE International Conference on Dielectrics (ICD 2016), July 3-7, 2016, Montpellier (FRANCE), 2016, Montpellier, France. pp.796-799, ⟨10.1109/ICD.2016.7547735⟩. ⟨hal-03943237⟩
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