A novel simulation approach for fault injection resistance evaluation on smart cards - Département Informatique et Réseaux Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

A novel simulation approach for fault injection resistance evaluation on smart cards

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02412312 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

Citer

Lionel Rivière, Julien Bringer, Thanh-Ha Le, Hervé Chabanne. A novel simulation approach for fault injection resistance evaluation on smart cards. Eighth IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation, ICST 2015 Workshops, Graz, Austria, April 13-17, 2015, 2015, Graz, Austria. pp.1-8, ⟨10.1109/ICSTW.2015.7107460⟩. ⟨hal-02412312⟩
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