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Perovskite oxynitride LaTiOxNy thin films: dielectric characterization in low and high frequencies17 International Vacuum Congress, Aug 2010, Pékin, China
Conference papers
hal-00567544v1
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Propriétés diélectriques basse et haute fréquence de couches minces pérovskites oxynitrures LaTiOxNy déposées sur différents substratsJournées Caractérisation Microondes Matériaux JCMM, Mar 2010, Brest, France
Conference papers
hal-00567669v1
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Couches minces pérovskites oxynitrures LaTiOxNy : du dépôt à la caractérisation diélectrique basses et haute fréquencesMatériaux Nantes 2010, Oct 2010, Nantes, France
Conference papers
hal-00567659v1
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