An atomistic investigation of the impact of in-plane uniaxial stress during solid phase epitaxial regrowth - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2013
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Dates et versions

hal-01017433 , version 1 (02-07-2014)

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Citer

B. Sklenard, J.C. Barbe, P. Batude, P. Rivallin, C. Tavernier, et al.. An atomistic investigation of the impact of in-plane uniaxial stress during solid phase epitaxial regrowth. Applied Physics Letters, 2013, 102 (15), pp.151907. ⟨10.1063/1.4802203⟩. ⟨hal-01017433⟩
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