Article Dans Une Revue
ECS Journal of Solid State Science and Technology
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00991672
Soumis le : jeudi 15 mai 2014-16:52:14
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:30:26
Citer
G. Gaudin, W. van den Daele, N. Chartrain, G. Riou, C. Veytizou, et al.. Physical and Electrical Properties of Thin Doped Silicon Films Obtained by Low Temperature Smart Cut and Solid Phase Epitaxy. ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2013, 2 (12), pp.P534-P538. ⟨10.1149/2.012312jss⟩. ⟨hal-00991672⟩
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