Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00649930
Soumis le : vendredi 9 décembre 2011-10:35:00
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:16:44
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00649930 , version 1
Citer
P. Delcroix, S. Blonkowski, M. Kogelschatz, M. Rafik. Mean time to failure distribution in thin oxide film: Observation at nano and devices scale and modelling using a filamentary growth model. SSDM Conference, Sep 2011, Nagoya, Japan. ⟨hal-00649930⟩
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