Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film. - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.

L. Pham-Nguyen
  • Fonction : Auteur
K. Bennamane
  • Fonction : Auteur
I. Pappas
  • Fonction : Auteur
G. Bidal
  • Fonction : Auteur
Alain Claverie
Gérard Benassayag
Pier-Francesco Fazzini
S. Monfray
  • Fonction : Auteur
F. Boeuf
  • Fonction : Auteur
T. Skotnicki
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00603879 , version 1 (27-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603879 , version 1

Citer

G. Ghibaudo, M. Mouis, L. Pham-Nguyen, K. Bennamane, I. Pappas, et al.. Electrical Transport characterization of nano CMOS devices with ultra-thin silicon film.. to be published, IEEE Conference Proceedings (2009), 2009, kyoto, Japan. ⟨hal-00603879⟩
169 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More