Revisited Pseudo-MOSFET models for characterization of ultrathin SOI wafers - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2009
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Dates et versions

hal-00596086 , version 1 (26-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00596086 , version 1

Citer

N. Rodrriguez, S. Cristoloveanu, F. Gamiz. Revisited Pseudo-MOSFET models for characterization of ultrathin SOI wafers. IEEE Transactions on Electron Devices, 2009, 56 (7), pp.1507-1515. ⟨hal-00596086⟩
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