Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00397724
Soumis le : mardi 23 juin 2009-10:03:23
Dernière modification le : mercredi 31 janvier 2024-03:57:36
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00397724 , version 1
Citer
C. Pastore, F. Gianesello, D. Gloria, E. Serret, Ph. Benech. Test Structure Definition for Dummy Metal Filling Strategy Dedicated to Advanced Integrated RF Inductors. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures,, Mar 2008, -, France. ⟨hal-00397724⟩
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