Article Dans Une Revue
Microelectronic Engineering
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393096
Soumis le : mardi 9 juin 2009-14:52:03
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:32
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393096 , version 1
Citer
J.-G. Yun, M. Bawedin, S. Cristoloveanu, D. Flandre, H.-D. Lee. The meta-stable dip (MSD) effect in SOI FinFETs. Microelectronic Engineering, 2007, 84 (4), pp.590-593. ⟨hal-00393096⟩
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