The meta-stable dip (MSD) effect in SOI FinFETs - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronic Engineering Année : 2007
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Dates et versions

hal-00393096 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00393096 , version 1

Citer

J.-G. Yun, M. Bawedin, S. Cristoloveanu, D. Flandre, H.-D. Lee. The meta-stable dip (MSD) effect in SOI FinFETs. Microelectronic Engineering, 2007, 84 (4), pp.590-593. ⟨hal-00393096⟩
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