Evidence of radiation induced dopant neutralization in partially-depleted SOI NMOSFETs, - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00392924 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00392924 , version 1

Citer

K. Akarvardar, R. Schrimpf, D. Fleetwood, S. Cristoloveanu, P. Gentil, et al.. Evidence of radiation induced dopant neutralization in partially-depleted SOI NMOSFETs,. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2007, 54 (6), pp.1920-1924. ⟨hal-00392924⟩
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