Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2008
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00391712
Soumis le : jeudi 4 juin 2009-15:15:23
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:05:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00391712 , version 1
Citer
I. Savin, I. Ionica, W. van den Daele, T. Nguyen, X. Mescot, et al.. Characterization of Silicon-On-Insulator films with pseudo metal-oxide-semiconductor field-effect transistor: correlation between contact pressure, crater morphology and series resistance.. Applied Physics Letters, 2008, XX (XX, XX183511), pp.1-3. ⟨hal-00391712⟩
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