Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147143
Soumis le : mercredi 16 mai 2007-09:04:44
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147143 , version 1
Citer
M. Ruat, J. Bourgeat, M. Marin, G. Ghibaudo, N. Revil, et al.. Reliability characteristics of 150GHz fT/fmax Heterojunction Bipolar Transistors under reverse, forward and mixed-mode stress. Int. Reliability Workshop 2006, 2006, Stanford Sierra, United States. pp.XX. ⟨hal-00147143⟩
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