Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147125
Soumis le : mercredi 16 mai 2007-08:47:42
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147125 , version 1
Citer
M. Ruat, N. Revil, G. Pananakakis, G. Ghibaudo. Unified Analysis of Degraded Base Current in SiGe:C HBTs after Reverse and Forward Reliability Stress. IEEE Bipolar - BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM2006), 2006, Maastricht, Netherlands. pp.XX. ⟨hal-00147125⟩
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