Structural and Electrical Characterisations of Yttrium Oxide Films after Postannealing Treatments - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of The Electrochemical Society Année : 2005

Structural and Electrical Characterisations of Yttrium Oxide Films after Postannealing Treatments

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00135039 , version 1 (06-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00135039 , version 1

Citer

C. Durand, C. Dubourdieu, Corentin Vallée, E. Gautier, F. Ducroquet, et al.. Structural and Electrical Characterisations of Yttrium Oxide Films after Postannealing Treatments. Journal of The Electrochemical Society, 2005, 152, pp.F217. ⟨hal-00135039⟩
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